高斯计是一种常用的磁场测量仪器，它可以测量磁性材料或物体表面的磁场强度，通常以高斯（Gs）为单位。然而，高斯计存在一些局限性，例如它的测量结果受到探头位置、探头芯片的厚度和位置等因素的影响，而且由于磁体表面磁场的不均匀性，高斯计的测量结果可能会有很大偏差。此外，不同厂家生产的高斯计可能存在测量值不一致的问题。

相比之下，磁通计则是通过测量磁体的整体平均值来反映磁体的整体性能。它利用电子积分原理，通过线圈检测磁性材料或物体的整体性能，单位通常是韦伯（Wb）。磁通计的优点在于它可以提供更加稳定和可比的测量结果，因为它是测量整个磁体的磁通量，而不是单一测试点的磁场强度。这样，即使磁体表面的磁场分布不均匀，磁通计也能给出一个代表磁体整体性能的平均值